| 标准名称： | X射线光电子能谱仪检定方法 |
| 英文名称： | Verification method for X-ray photoelectron spectrometers |
| 中标分类： | 化工 >> 化工综合 >> 基础标准与通用方法 |
| ICS分类： | 化工技术 >> 分析化学 >> 化学分析 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-09-26 |
| 实施日期： | 2011-08-01 |
| 首发日期： | 2010-09-26 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会 |
| 起草单位： | 福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室 |
| 起草人： | 王水菊、时海燕、丁训民 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-08-01 |
| 页数： | 28页 |
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
没有内容
前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 符号和缩略语 1 4 方法原理与系统构成 3 5 计量单位与技术指标 4 6 检定环境 5 7 检定项目与方法 5 8 报告检定结果 22 9 检定周期 22
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